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    芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱

    簡要描述:

    芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱
    采用遠紅外鎳合金高速加溫(2KW×2)電加熱器;高溫*獨立系統,不影響低溫試驗、高溫試驗及交變濕熱;溫濕度控制輸出功率均由微電腦演算,以達高精度及效率之用電效益。

    型號:SPE-80L-2P 瀏覽量:1080
    更新時間:2023-10-24 是否能訂做:是

    芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱

    溫度控制器

    1、進口TEMI880真彩液晶顯示7寬屏,全中文液晶顯示LED觸摸式面板,畫面對談式輸入資料,溫濕度同時可程式控制,背光燈17段可調,曲線顯示,設定值/顯示值曲線

    2、控溫儀規格:精 度:0.1℃ 解 析 度:0.1℃

    3、測 溫 體:Pt100測試傳感器

    4、控制方式:熱平衡調溫調濕方式

    5、帶RS232 和RS485 計算機接口實行人機對話、聯機數據傳輸及遠程控制功能

    6、配送智能化計算機控制支持軟件系統

    7、儀表可顯示設定參數、當前運行程式號、當前運行步及步剩余時間、加熱器工作狀態、加濕器工作狀態、程式運行趨勢、循環剩余次數

    8、程式自動運行、停機后自動斷電

    9、儀表能實現手動PID控制及PID自整定功能

    10、儀表能展現八天程式運行曲線

    11、儀表能實行予約自動運行及及時運行

    12、儀表能定值控制與程式控制進行無憂切換

    13、控制方式與特色:平衡調溫控制系統(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR。

    可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱直銷廠家

    芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱

    技術參數:

    1.型      號:SPE-80L-2P   

    2.溫 度 范圍:- 70℃~ +150 ℃

    3.濕 度 范圍: 20%~98%RH (可調式)

    4.溫度波動度: ±0.5℃ 均勻度:±2℃

    5.濕度波動度: ±2%R•H 均勻度:+2%~3%R•H

    6.升降溫速率: 0.7~1℃/min

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